Bedeutende Modernisierung des Labors von Lab Circuits

Bedeutende Modernisierung des Labors von Lab Circuits

Unser Streben nach ständigen Verbesserungen im Zusammenwirken mit unserem engagierten Mitarbeiterteam, dem wir stets die besten Mittel zur Verfügung stellen, hat es uns ermöglicht, unseren Kunden die höchste Qualität und Leistungsfähigkeit der von Lab Circuits hergestellten Leiterplatten zu gewährleisten.
In diesem Sinne und um an unserem Vorsatz der kontinuierlichen Verbesserung festzuhalten, haben wir eine bedeutende Modernisierung unserer Laboranlagen vorgenommen und unsere Ausstattung zu diesem Zweck mit einem Messgerät zur Feststellung der Ionen-Verunreinigung, einem neuen Reflow-Lötofen, einem neuen Röntgen-Prüfgerät zur Messung der Metalldicken und einem optischen Mikroskop der neuesten Generation ergänzt.

Messgerät zur Feststellung der Verunreinigung von Gen3 System
Wegen der zunehmend hohen Anschlussdichte auf den Leiterplatten (HDI) wird die Reinigung derselben immer wichtiger. Aus diesem Grunde haben wir bei Lab Circuits unsere Anlage zur Feststellung der Ionen-Verunreinigung erneuert und mit einem Messgerät der neuesten Generation ausgestattet.
Kontaminometer werden benutzt, um die Ionen-Verunreinigung nach den IPC-Richtlinien /ANSI-J-STD001 zu messen. Diese Instrumente sind auch unter der Bezeichnung SEC (Leitfähigkeit von Lösungsmittelextrakten) bekannt.
Diese Analysemethode ist allgemein als wichtiges Hilfsmittel anerkannt, da sie die Prozesskontrolle bei der Herstellung von Leiterplatten und deren Komponenten gewährleistet.

Röntgen-Prüfgerät Fischerscope X-Ray XUL-PCB zur Messung der Metalldicken
Dieses neue Röntgen-Prüfgerät zur Messung der Metalldicken wurde speziell dazu entwickelt, die Dicke von Beschichtungen vom Typ Au/Ni/Cu/PCB, Ag/Cu/PCB oder Sn/Cu/PCB, unter anderen, zu messen und eine quantitative Bestimmung des Metallgehalts von Elektrolytbädern durchzuführen.
Zweifellos handelt es sich dabei um einen unverzichtbaren Bestandteil der Anlagenausstattung von Lab Circuits, da mit diesem Gerät nicht nur die Metallbeschichtung der fertigen Leiterplatten überprüft, sondern auch eine Analyse und Kontrolle der verschiedenen chemischen Prozesse, die im Rahmen der Herstellung von Leiterplatten stattfinden, durchgeführt werden kann.

Optisches Mikroskop LEICA DM 2700 M
Das Mikroskop Leica DM2700 stützt sich bei allen Kontrastmethoden auf den Einsatz von LED-Beleuchtung: Helles Feld, dunkles Feld. Ebenso wird die Schrägbeleuchtung verwendet, um die Oberflächenbeschaffenheit und eventuelle daran vorhandene Mängel besser sichtbar zu machen.
Das Gerät ist mit einer sehr fortschrittlichen Analyse-Software ausgestattet und wird sich zweifellos als sehr nützliches Hilfsmittel bei der Analyse und Untersuchung der verschiedenen Prozesse im Rahmen der Herstellung der Leiterplatten in den Anlagen von Lab Circuits erweisen.

Reflow-Lötofen LPKF ProtoFlow S
Wir haben unsere Anlagen um einen neuen Lötofen erweitert, der es uns ermöglichen wird, die verschiedenen Lötprozesse besser zu simulieren, da dieses Gerät mit Temperatursonden für die Einstellung des gewünschten Lötprofils ausgestattet ist.
Bei Lab Circuits werden die Leiterplatten mehrfachen Lötzyklen unterzogen, um die dauerhafte Verbindung der Multilayers zu gewährleisten und sicherzustellen, dass die Leiterplatten den Anforderungen während der späteren Phasen der Montage der Komponenten standhalten können.

Datum der Veröffentlichung: 27-07-2017